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我們的競爭對(duì)手喜歡想方設(shè)法讓他們的產(chǎn)品看起來比我們的性能更好。 最近，我們收到了一些關(guān)于 QUV 輻照度均勻性的問題，因?yàn)槲覀兊母偁帉?duì)手發(fā)布了他們的熒光 UV 測(cè)試儀輻照度均勻性參 數(shù)。
他們聲稱，他們的熒光紫外線測(cè)試儀"在樣本表面的輻照度均勻度為 4%"。
我們的 競爭對(duì) 手喜 歡吹噓 他們 4%的 “ 輻照度 均勻 性"規(guī) 范， 但他們 傾向于 淡化 4%的實(shí) 際含 義。首 先，他們 使用了 不正確 的術(shù)語 。他們 要么說 一致性是 96 %，要 么說非 一致性 是 4%。其 次，這 個(gè)值不 是整個(gè)腔 室的均 勻性， 甚至也 不是腔 室某一 側(cè)的均 勻性。 它只是 說，在 6.35 × 9.53 厘米 (2.5 × 3.75 英寸)的面積上，輻照度不均勻性為 4%。這種 說法誤 導(dǎo)了很 多客戶 。
再加上，樣品表面的均勻性對(duì)機(jī)械評(píng)價(jià)(如光澤或顏色)影響不大。在進(jìn)行這些測(cè)量時(shí)，通常會(huì)對(duì) 標(biāo)本的中心部分進(jìn)行評(píng)估，因此外邊緣對(duì)測(cè)量的影響非常小。所以說真的，這是一個(gè)愚蠢的規(guī) 范，因?yàn)樗鼘?duì)評(píng)估幾乎沒有影響。不管怎樣，我們?cè)跇?biāo)本的表面上確實(shí)有相同的輻照度均勻 性，所以那里沒有問題。
雖然 QUV 樣品表面的輻照度均勻度與我們的競爭對(duì)手相似，但我們可以提供更多的信息。除了樣品 表面的均勻性外，當(dāng)你排除設(shè)備邊緣的樣品支架時(shí)，我們可以擁有大于 90%的整體輻照度均勻性。
在 QUV 邊緣的輻照度均勻度 下降到 80%以下， 但這是基于 物理和幾何 的限制， 適用于所有 熒光紫外 測(cè)試儀。
熒光紫外線燈發(fā)出的光貫穿整個(gè)長度。標(biāo)本的大部分光線來自燈的最近部分，但它們也暴露在來自標(biāo)本 左側(cè)和右側(cè)的燈部分的光線下。
測(cè)試器左側(cè)的 樣品不會(huì)暴 露在來自 左側(cè)的光線 下，因?yàn)?/span> 燈不會(huì)進(jìn) 一步延伸到 左側(cè)。同 樣，位于測(cè) 試儀 右側(cè)的標(biāo)本也不會(huì)暴露在來自右側(cè)的光線下。圖 1 是這種效果的圖解演示。
圖 1:靠 近 燈端部的樣品被暴露在較低的輻照度下的示例
盡管 末端 位 置的 輻照 度略 低 ，但 我們 的 政策 是所 有 標(biāo)本 位置 都 可以 使用 ，但 強(qiáng) 烈推 薦標(biāo) 本 重新 定位 (參見 Q-Tip 21， “標(biāo)本重 新定位是 最佳實(shí)踐 ")。如果客 戶不想重 新定位標(biāo) 本或要求 所有位置 的輻照 度均勻度為>90%， 那么他們可 以選擇將 末端的標(biāo)本 夾留空。
我們最近也有一些關(guān)于 QUV 溫度 均勻 性的 問題。 通過 正確 的安 裝和樣 品安 裝， Q UV 內(nèi)的 溫度 均勻 性非常好。
客戶 避免 在 末端 或標(biāo) 本之 間 出現(xiàn) 任何 間 隙是 非常 重要 的 。這 些縫 隙 會(huì)導(dǎo) 致空 氣 沖出 腔室 ，從 而 導(dǎo)致 相鄰試樣冷卻，并在其他位置產(chǎn)生熱 點(diǎn)。
當(dāng)客戶要求 QUV 的一致性時(shí)，正確地提出這個(gè)問題是很重要 的。他們問的是輻照度還是溫度均勻 性?他們測(cè)量的均勻度是在哪個(gè)區(qū)域?我 們更喜歡使用箱體內(nèi)輻照度均勻 度，而不是樣品表面的均勻度 ，這 在QUV 中是非常好的(>90%)。
雖然 QUV 輻 照度均勻性 很好，但 物理和幾 何定律限制 了燈具兩 端的輻照度 。我們建 議通過利 用標(biāo)本 重新定位來克服這一限制，這也提高了水噴霧和溫度均勻 性。
最后，在進(jìn)行溫度測(cè)量時(shí)，正確安裝標(biāo)本支架是很重要的。有可能用來測(cè)量溫度的設(shè)備實(shí)際上降 低了測(cè)試儀的溫度均勻性!
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